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蘇州英飛思科學儀器有限公司
主營：光譜儀,合金分析儀,礦石分析儀
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XRF鍍層測厚儀工作原理
鍍層測厚儀EDX8000B是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒-30秒內完成。
蘇州英飛思科學儀器有限公司，英文名字：Efficiency Scientific Instrument Co.，Ltd.
公司logo和英文縮寫為ESI。
英飛思ESI坐落于美麗而現(xiàn)代的蘇州工業(yè)園。
XRF鍍層測厚儀工作原理鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，XRF鍍層測厚儀，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒-30秒內完成。
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第5年
